众人回到控制室,罗阳坐到其中一台电脑前,说道:
“测你们这种薄膜样品,X射线要以近乎水平的角度射到硅片的边缘。
需要保证每次测试时,刚好有一半的X射线被硅片挡住,另一半X射线则照射到样品表面,与样品发生作用,产生衍射信号,最终被信号收集器收集。
为了防止信号收集器**射线直接照射,要在它的前面放置一枚铅制硬币,用来吸收绝大部分的X光。
现在我们来进行调试。”
罗阳一边用编程语言控制测试舱内的仪器,一边介绍:
“调试过程就只是给你们讲一下,不懂的话也不影响你们测试。
第一步,我们先把样品台在垂直方向,也就是z方向上,向靠近地面的方向移动,使样品完全没有挡住X射线。
此时,检测器上的信号强度是几乎恒定的,也是它的最大值,这个极值需要记录下来。
第二步,将样品台缓缓上升,直到检测器上的信号强度开始降低,这就表明样品开始挡住X射线了。
第三步,让样品台的z坐标,在一个较小的范围内线性变化,在此期间对信号强度进行扫描……
(ò﹏ò)
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